Laboratorium – Szybkie Prototypowanie i Inżynieria Odwrotna – SPIO

ćwiczenie
RE-1 Przenośne ramię pomiarowe – pomiary dotykowe
RE-2 Skanowanie 3D obiektów rzeczywistych

Instrukcje i karty pomiarowe umieszczone na stronie Instytutu, w całości ani we fragmentach, nie mogą być wykorzystywane, powielane ani rozpowszechniane za pomocą urządzeń elektronicznych, mechanicznych, kopiujących, nagrywających na uczelniach innych niż Politechnika Łódzka, bez pisemnej zgody posiadaczy praw autorskich